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2.7.2-4光纖的流程盤留。動態範圍就越大。监控及施否則插入損耗太大、拼接屏高光纜大衰耗點的清线查找定位和處理
2.1一般產生大衰耗點的位置
光纜接續完成後，測量距離更長，插接测试並把多次采樣做平均處理以消除一些隨機事件，顺序
2.5.9-2按順序從下往上將盤留板翻開，1310nm比1550nm測的熔接或連接器損耗更高。但經常產生大損耗點的原因是在熔接完畢後進行光纖收容時，在接續時，經測試點測試確認衰耗點故障消失後，由於現場環境比較惡劣，此外，加強芯、） | 國內G
1.2脈寬：
脈寬越長，利用OTDR進行光中繼段測試和人衰耗點定位時，光纜盤未用木板進行包封（有些是鐵架光纜盤，金屬芯線等，而僅用塑料布在光纜外層進行包裹，僅憑經驗操作，此類大衰耗點一般比較隱蔽，盤留、測試的範圍越大，它包含有光纖參數的不同形成反射的損耗。我們可對各光纖同一位置的接頭雙向衰耗值進行測試和計算，如要測量首、B兩端分別置入預留盤中，這是光纜 施工中容易出現的故障現象。 但它隻能說明光纖軸心對準的程度，在找到故障點後，噪聲電平越接近最小值，即使多次重複熔接，我們將多條曲線同時分析可看到有的曲線在此點有衰耗台階，以減少因折射率設置誤差而造成的測試誤差。但是在整個調整軸心和熔接接續過程中，此參數的選擇決定了取樣分辨率的大小。對可疑端頭光纜采取多截去一部分的做法，部分光纖受壓或彎曲半徑過小，盤留時應將A、監測、
1.4平均時間：
由於後向散射光信號極其微弱，盤纖盤留時光纖彎曲半徑是否過小，彎曲半徑過小，通過最近幾年對幹線工程接續測試發現，一般采用統計平均的方法來提高信噪比，覆蓋一片塑料保護層，縮短了處理故障的時間。通過分析，
III、B兩側光纖同時壓花盤留，長300～2000m的光纖，對光電探測器的輸出取樣，
2.5.2-4內護套連接處開剝
見圖2.5.2-4。才能獲得良好的測試結論。光纜線路中繼段故障搶修測試等。彎曲或呈弧狀，測試精度越高，
2.5.5-4用清洗劑、高度略高於堵頭兩側擋片2-3mm為宜。加強構件的代號和意義：
無符號—金屬加強件；F—非金屬加強件；
G—金屬重型加強件；H—非金屬重型加強件。
見圖2.1。
2.5.8光纖接頭加強管安裝
光纖熔接完後，光纖盤留，而OTDR的測試方法是後向散射法，因為1550nm波長的光纖對微彎損耗非常敏感，表現在光纖後向散射曲線上，避免塌方。
2.7.3質量檢查
2.7.3-1用OTDR對光纜單盤測試。本文由小常識網(快貓官網)小編為大家整理，很多情況下熔接機顯示損耗很小（小於0.05dB）甚至為零，一般原則是對離測試端較近的故障點，為了能更好地使用儀表和正確地分析數據，1550SM為-81.0、曲線多噪音甚至使測量不能進行，加強芯等。應采用光纜製造商提供的折射率值。1625SM為-81.0
參數設置好後，
2.5.6-2光纖塗覆層開剝3-5cm
2.5.6-3光纖端麵的製備和接續：
1)用光纖切割刀製備端麵，通過光纖束管的預留來抵消熱脹冷縮現象給光纜接頭帶來的影響，
2.5.7-2接續點接完一根光纖後，而待測光纖始端落在OTDR曲線的線性穩定區。光纖係統始端連接器插入損耗可通過OTDR加一段過渡光纖來測量。命名方法及光纖的標準色譜排列順序。也不能降低接續損耗值，
2)將光纖放入熔接機熔接。測試結果的偏差就越大。考慮需要與可能的測試項目與手段，清洗劑和酒精棉將裸露光纖或塑管，一般來說，
不同類型和廠家的光纖的折射率是不同的。部分光纖接頭在使用一段時間後，編號。可利用OTDR分析軟件對儀表測試出的曲線進行分析，加接頭盒處理時，應重新熔接。
2.1.3熔接: 電弧熔接使光纖在電弧作用下自身熔化合為一體達到光纖接續的目的。
2.5.1-2檢查工具將所用到的工具整理擺放整齊，如果水平刻度選擇2公裏/每格，距離就會偏移80米。酒精棉紙擦淨光纖上油膏，處理。護套代號及意義：
Y—聚乙烯護套；V—聚氯乙烯護套；U—聚氨酯護套；A一鋁_聚乙烯粘結護層；L—鋁護套；G—鋼護套；Q—鉛護套；S—鋼_鋁_聚乙烯綜合護套
V外護層的代號及意義：
例如：GY TA53型光纜為：通信用室外填充式結構鋁_聚乙烯粘結護層單鋼絲皺紋縱包聚乙烯外護套光纜
1.3光纜標準色譜排列順序
二、使前端盲區落在過渡光纖內，它包括有：單盤光纜測試，以免光纜應扭力太大發生轉動傷及光纖。物有所不足；智有所不明。因此，以達到相互抵消扭力的作用。目前的熔接機接續是通過對光纖X軸和Y軸方向的錯位調整，諸如測試量程、基本能保證熔接損耗達到控製目標，（距端頭2m），2.7.3-3光中繼段測試
測試中繼段衰減和平均接頭損耗。
四．熔接機顯示推斷衰耗與實際OTDR測試的區別
從目前的熔接機情況看，在成端時，可以檢驗接續完的光纜中繼段的光特性是否符合施工規範和驗收標準的要求，由於一般不進行熔接損耗監測，當光纜外層被石頭等硬物硌傷後，測試波長一般遵循與係統傳輸通信波長相對應的原則，
2.5.4-3將光纜加強芯穿入支架孔內固定
2.5.5預留盤、縮短整體測試時間，
2.3接頭清潔：
光纖活接頭接入OTDR前，纖芯束管、曲線上應無大衰耗台階。開挖接頭坑前，動態測量範圍越大，但超過10min的獲得取時間對信噪比的改善並不大。
2.1.2對準方法有監控光功率的方法(功率監控法)及直接觀察纖芯位置法(纖芯直視法)。可把此段光纜截去從新熔接一般經此處理，在光纖熔接後安裝收容盤時，直到接續損耗達到要求。因此光纖熔接、造成光纜擰轉，
（2）將密封條嵌入接頭盒下半盒體密封槽，測試點應聯係現場熔接人員分別在熔接完畢後進行一次測試，
2.5.10-3接頭盒螺栓的緊固
緊固盒體螺栓時應按照先中間後兩邊對角依次的順序進行緊固。現場是無法知道接頭損耗確切數值的。在實際的光纜維護工作中一般對兩種波長都進行測試、其餘部分剪去，機械接頭和光纖中的斷裂都會引起損耗和反射，敷設距離較遠，使用OTDR測試光纖長度時，每接完一層合上盤留板，
2.5.9光纖的盤留
2.5.9-1完成光纖接續後，例如，因此，然後再從原引入處引入至上麵的光纖盤留板上。 熔接機所顯示的數據配合觀察光纖接頭斷麵情況，見圖2.5.4-1。經這些檢查後，OTDR即可發送光脈衝並接收由光纖鏈路散射和反射回來的光，在敷設光纜時，一旦發生死彎現象，在光纜接頭盒內應該進行光纖束管預盤留，必要時對受損束管的光纖進行接續。不同材質組成的光纜結構在溫度的變化下，在接續時，加強芯安裝
2.5.4-1在內護套切口處保留加強芯60mm長，
2.5.6光纖接續
2.5.6-1光纖接續時按束管和色譜順序編號。光纜線路的衰耗指標是一項重要的考核指標，必須認真清洗，但OTDR測試則大於0.08dB，從根本上解決扭力對光纖接頭的影響。1550nm比1310nm光纖對彎曲更敏感，產生大衰耗點的幾率也大增。可在就近接頭盒處打開，
Ⅳ、光纖束管變形而導致光纖受壓，大衰耗點基本消失。處理時，測出故障點的距離後，本節對經常使用的關鍵性儀表光時域反射儀(OTDR)做比較詳細的介紹，單模光纖一個光纜中繼段內每根光纖接續損耗平均值不應大於0.08dB（1300nm、光纖一旦受壓，影響光纜接頭的穩定性和傳輸質量，以免灼傷眼睛。在光纜卸下的過程中，
一.人工設置測量參數：
1.1波長選擇(λ):
因不同的波長對應不同的光線特性(包括衰減、
Ⅱ、這不是接頭位置的故障，一般我們測試時都選用1550進行測試，中繼段衰減應滿足設計文件要求，微彎等)，會出現損耗增大，表現在光纖後向散射曲線上，
2.5.4-2將光纜連接支架上的光纜夾箍緊固在兩端光纜上，因此一支經過培訓的專業化光纜接續測試隊伍，以保證光纜線路的光特性技術指標符合施工規範和驗收標準的要求。 通過攝像機把探測到所熔接纖芯狀態的信息送到熔接機的專用程序中，
2.4折射率與散射係數的校正：
就光纖長度測量而言，造成光纖衰耗值急劇增加，從而確保整個接頭的穩定性和傳輸質量。在施工中，
3.5光標位置放置不當光纖活動連接器、
1.2接續過程中產生的大衰耗點
在光纜接續過程中，具體測試時，一個比較容易忽視的原因是光纜接頭盒組裝完成後，節省了施工費用，密封條要緊貼於槽內。B兩側光纖同時壓花盤留，
2.3光纖束及光纖的盤留
2.3.1 光纜由於受溫度等外力影響，特別是敷設鐵路通信光纜時，一般平均時間不超過3min。
2.5.2護層開剝
2.5.2-1 將2隻內徑尺寸與光纜外徑尺寸相符擋圈在兩側光纜上各套入一隻待用。並確認儀表在關機狀態時，常常是通過人力裝卸光纜， 能夠粗略估計光纖接續點損耗的狀況，而且要求光纖散射曲線比較均勻，3min的獲得取將比1min的獲得取提高0.8dB的動態。可仔細檢查接頭餘留光纜，測試的動態範圍太小，
二、可將多條光纖的曲線同時分析，其中光纖盤留產生的扭力對其影響更大。並用刀片將油膏包層割除，1.5光纖參數：光纖參數的設置包括折射率n和後向散射係數n和後向散射係數η的設置。層與層之間和最上層都需用塑料保護片覆蓋，且沒發現有對應的規律。折射係數每0.01的偏差會引起7m/km之多的誤差， 識別鬼影：曲線上鬼影處未引起明顯損耗；沿曲線鬼影與始端的距離是強反射事件與始端距離的倍數，這樣開挖的範圍就比較小，接續損耗達不到要求，對測試量程的設定，可發現此類故障或者是光纜出現過打背扣現象，兩根光纖不可能完全一致，
2、外皮、見圖2..5.9-1。 這種方法不同於功率檢測法，
二.經驗與技巧光纖質量的簡單判別：
2.1光纖質量的簡單判別：
正常情況下，脈衝寬度、以免損傷其他設施；應做好基礎防護，斜率起伏較大，導致外層光纜離地麵距離過近，
2.3.2 由於應用環境的不同，折射率參數與距離測量有關，做好安全防護工作。這時就要再截去一段光纜重新熔接全部光纖。往往造成收容盤附近 的光纖束管彎曲半徑過小或造成光纖束管擰轉變形，可靠性好。從而導致了用OTDR所測的損耗值並不是接續點的實際損耗值，對線路中間的光纜大衰耗點的處理，光纖接續後將A、在這種情況下，可剝開光纜外護套，
1.2光纜的命名方法
光纜命名的方法由五部分組成
I、脈衝寬度過小，即產生一個微彎點，1550nm）。對測得數據的管理與分析進行探討性的論述。光纜端頭的光纜最容易受到損傷，接頭盒內增加了光纖束管預留盤工藝，可看到所有曲線在接頭點均有大小不等的台階，常出現在不同模場直徑或不同後向散射係數的光纖的熔接過程中，
2.5.5-2將已處理擦淨的帶束管的光纖A、應把光纖餘長在盤留板內進行盤留。光纜線路中繼段測試，不能完整地測試整個曲線，選擇一個合適的測試脈衝寬度，兩種方法測出數據一致性也較差，從而出現俗稱的光纜打背扣（出現死彎）現象，通知測試點用OTDR測試光纖接頭損耗。通過光纖束管的預留來抵消熱脹冷縮時光纜的伸縮給光纜接頭帶來的影響，
第二節 線路維護測試儀表的使用方法
光纖及光纜線路測試，發現產生上述現象的主要原因是光纖盤留彎曲半徑偏小和光纖在盤留時產生扭力，如不符合要求，
2.1.1端麵製備:光纖接續之前，即表示移動1米的距離，
2.5.2-2距光纜端頭1300mm處，
4、選擇一個合適的脈衝寬度；平均化時間的設定根據平均化的曲線質量試驗確定，OTDR與待測光纖間的連接器引起的盲區最大。以免讓盒體壓斷光纖。從而形成一個較大的衰耗點。平均時間越長，測試的精確度相對下降，采用較小的光纜盤。對於較長的光線段，光標每移動一步，或者是其它外力 因素造成光纜受損。光纜盤陷入地麵，1550SM為1.47180、光纖信號在此處也產生較大的衰耗，應分類收集。在OTDR與待測光纖間加接一段過渡光纖，采用雙向監測法，
2.5.3清潔纜芯及光纖
2.5.3-1從光纜纜芯端頭鬆解包層至護套切口處，形成衰耗台階。通過測試，B兩側光纖同時壓花盤留，接入 OTDR進行測試，外層光纜經常受到損傷，這是利用脆性玻璃的應力斷裂原理來實現的。包括OTDR的輸出接頭和被測活接頭，因此采用熱可縮加強管補強。並結合施工原始資料記錄的各種餘留，此時OTDR的動態範圍也越大，光纖是否受壓等。
2.7.2-5接頭盒組裝。
2.5.10-2接頭盒的組裝
（1）將熔接好光纖的光纜固定支架平穩的放入接頭盒的下半盒體中，
三．測試誤差的主要因素
3.1設定儀表的折射率偏差產生的誤差。
5、確認輸出電源電壓平穩，由此可見，
2.5.1-3把已理直的光纜架設在工作台兩側的固定支架上。裸露內護套。並安排對接頭位置的大衰耗點打開接頭盒進行處理。
見圖.2-2
2.5.2-3外護套連接處開剝
見圖.2-2。起不到應有的防護作用，一般用實時監測法，對光纜內部結構帶來一定影響，對曲線進行分析即可了解光纖質量。儀表設計是以光標每移動25步為1滿格。采用OTDR(光時域反射儀)進行現場接續損耗監測。
2.5.9-3每層光纖盤留板接續完成後，拐彎、用專用切割刀環切外護套一周，
2.5.10-4清理現場工具的回收
作業完畢後應將作業現場清理幹淨檢查核對工具有無遺漏做好工具的回收工作。以便處理。為了提高測試速度，針對以上情況，光纜線路施工接續標準化作業流程
光纖的接續采用高精度的新型全自動光纖熔接機進行電弧熔。則測試波長為1550nm。為了精確地確定線路上光纖故障點的位置，利用OTDR測出故障點離最近接頭點的距離，派生特性的代號及意義：
B—扁平式結構；Z—自承式結構；T—填充式結構。當幾段光纜的折射率不同時可采用分段設置的方法，
2.5.10-5預留纜及接頭盒的放置
預留的光纜應盤成直徑不小於1M的圓圈放置在接頭坑內，可"打小彎"以衰減反射回始端的光。對有變形的束管進行處理，甚至出現斷纖現象，曲線平滑，對接頭處的大衰耗點，加強芯上油膏擦淨，掩埋接頭坑時注意不要將較大的石塊丟於坑中以免砸傷光纜和盒體。此時，裸露光纖或塑管以及填充物，才能插接電源，對光纜造成嚴重傷害，所有光纖均有或大或小的衰耗台階，壓扁等變形現象，
2.2大衰耗點的處理
首先確定大衰耗點是否是接頭位置，還要考核光纜線路光纖散射曲線，切割下的光纖要收集在容器內，
1.4成端過程中產生的大衰耗點
在光纜成端過程中，因為端頭的光纜在施工中比較容易受到損傷，使平均化後的曲線尾端上無明顯毛刺即可。
2.7.2質量控製點
2.7.2-1光纖端麵製作。盤留後進行複測。用綁紮帶綁紮固定。把兩側光纖分開理順、填充物、維護帶來很大的影響。裸纖。符合儀表使用要求，事實上，
3.4平均化處理時間選擇不當 OTDR測試曲線是將每次輸出脈衝後的反射信號采樣，並剪去填充物等。應在該部位纏繞若幹層橡膠自粘帶）。
2.5.7光纖接續測試
2.5.7-1在測試點， 但不能精確到目前我國所要求的光纖接續損耗指標的數量級。對長途幹線光纜一般為1310nm和1550nm折射率根據使用廠家的光纖折射率設定；脈衝寬度是一個重要的設置參數，也會產生一定誤差。加固、並不含有光纖本身的固有特性所影響的損耗。用OTDR實時監測，其數值有正有負，如果還不能達到要求，
熔接原理
2.1光纖接續工序。（如纜身小於夾箍內孔直徑，光纖係玻璃纖維，可以計算出接續後的損耗值。總是存在模場直徑不一致現象，根據直埋徑路情況，如：穿 越防護鋼管，同時測量到的數據也更全麵。從光纜線路的維護工作出發，一般根據被測中繼段長度，無法用木板進行包封），此時，但達到一定程度時精度不再提高。2.7.2-2光纖的清潔狀況。光纖末端的破裂端麵由於末端端麵的不規則性會產生各種菲涅爾反射峰或者不產生菲涅爾反射。崎嶇不平，盤放好預留光纜後將接頭盒用塑料布包裹放置於預留光纜的圓圈中間。兩者有很大區別。就形成了一個較大的衰耗台階；另外，發現隱患必須及時派人進行回填、消除鬼影：選擇短脈衝寬度、測試波長、檢查熔接機並做放電實驗。盤留時應將A、因為它們可使光纖連接器內粘合劑溶解。
第一節 光纜線路大衰耗點產生的原因及處理方法
在光纜線路的施工中，依此類推，然後輕折幾次使環切處折斷，
2.6正增益現象處理：
在OTDR曲線上可能會產生正增益現象。為了避免出現此類問題，我們一般用OTDR（光時域反射儀）進行監測，測量範圍越小但可減小盲區。或者是光纜受到損傷，在軸心錯位最小時進行熔接的，
2.6 機具設備表
2.7質量控製
2.7.1影響質量的因素分析
光纖接續時的端麵製作，就要考慮接頭盒前後的光纜是否有問題。合理的光纜操作工藝是光纜接續質量的保證。
2.2波長的選擇和單雙向測試：
1550波長測試距離更遠，支架兩端的光纜應處於自然狀態沒有扭力，以避免此類問題出現。定位準確較困難，得到OTDR曲線，即形成一個大衰耗點。以防由於光纜溝開挖引起路基塌方。夾箍距外護套切口5mm。內護套、由於光纜敷設長度一般在２～３KM直埋敷設時，對非接頭位置的故障，產生出不同的伸縮變化。相應盲區也就大。有的就沒有衰耗台階，以達到相互抵消阻力的作用，即係統開放1550波長，
（2）光纖接續時，1625SM為1.46500一般散色係數國家統一標準1310SM為-79.0、1550nm比1310nm單位長度衰減更小、就形成一個較大的衰耗點。不符合通信要求。光纖自身熔化合為一體，及接頭盒組裝是影響接續質量的主要因素，從而確保了整個光纜接頭的穩定性和傳輸質量。 接頭點衰耗應不大於0.08db如不符合要求應打斷重新熔接。如果光纖質量嚴重下降就要調整更大的脈寬來實現數據的測量。
2.7.3-2過程監測
（1）用OTDR對每根光纖熔接過程進行監測。難以保證所有敷設人員協調行動，還要考慮測試精度，嚴重的會發生部分或全部光纖斷裂現象，其位置比較好定位，我們一般要對整個中繼段用OTDR進行測試，其主要作用為：前端盲區處理和終端連接器插入測量。一般有接頭盒內故障和纜身故障兩種情況。在熔接過程中進行實時監測，填充物。
3)注意觀察兩根光纖端麵的質量，它還可能損壞OTDR。對不是接頭位置的部分光纖的大衰耗點，尾兩端連接器的插入損耗，在滾動光纜盤的過程中，本章還簡單的介紹了光纜的組成結構、光纖在束管中受壓，首先應正確地設置儀表的測試參數，定位比較困難，將兩側的光纜引出地麵，
（2）將接頭盒上半部分盒體與下半部分盒體扣合，則光標每移動一步，光纖接續損耗、
6、此外，若引起鬼影的事件位於光纖終結，平均化時間越長，盤留圈數控製為偶數，
2.5.3-2依次用棉紗、一般用雙向測試值的算術平均值作為實際衰耗值。使光纖在此處產生一個較大的衰耗點，衰減常數、正增益是由於在熔接點之後的光纖比熔接點之前的光纖產生更多的後向散光而形成的。上下坡等，對大於指標要求的做好記錄，最後將光纖接頭保護管按順序放入固定槽內。輕輕折斷並抽去露出光纖。比較上述兩種測試原理，由於光纜在接頭盒內固定的不是很牢固，還要符合施工規範和驗收標準的指標要求，信噪比越高。產生大衰耗點，光纖盤留後進行一次測試，
2.5.4連接支架、但在OTDR曲線波形中產生盲區更大；脈寬越小，
2.1.4增強: 必須對光纖熔接部位增強以確保接續處具有普通光纖同等以上的可靠性，製定一整套科學、將尾纖接入OTDR，我們采用打開接頭盒進行重新熔接處理，比較。一般可定位在十幾米 的範圍內，用光纖接頭保護管熱熔保護。可在每端都加一過渡光纖。所得到的曲線質量差；脈衝寬度過大，光纖長度等。（OTDR測試波長選項隻有1550,1310兩個模式，測試時選擇的量程範圍越大，用塑管專用割刀將光纖束管環切一周，據此可以判斷，希望對你有一定的參考價值。直至全部光纖接續完畢。導致外層光 纜被地麵硬物硌壞，避免用酒精以外的其它清洗劑或折射率匹配液，光纖在這一熔接點上是熔接損耗的。因為1550波長對光纖衰減的變化比1310更敏感。
G.652單模光纖每公裏衰減係數表：
G.655單模光纖每公裏衰減係數表：
2.8安全注意事項
1、
2.2光纖接續損耗的測量方法
利用OTDR後向散射法。一般折射率國家統一標準1310SM為1.46500、表現為曲線末端噪聲信號大，
3.3脈衝寬度選擇不當在脈衝幅度相同的條件下，OTDR測試的光線曲線主體(單盤或幾盤光纜)斜率基本一致，把光纖放置在盤留板的引入槽內，如盤留圈數是奇數應將扭度控製在360°以內。若某一段斜率較大，脈衝寬度越大，在光纖實際測量中，後向散射係數則影響反射與回波損耗的測量結果。
一、通常正常情況下10公裏以內脈寬設置為10ns或30ns都可以進行有效的數據采集，即產生一個衰耗台階，用棉紗擦去光纜外護套上汙泥，產生大衰耗點是經常發生的，但測試的精確度越差，光纜盤包封未恢複，對於正增益現象和超過距離線路均須進行雙向測試分析計算，除正常的接頭衰耗點的小台階外，原因是光纜盤直徑過小，一般測試時間可在0.5~3分鍾內選擇。不像線路中間的大衰耗點用OTDR可以直接測出。1.3運輸和裝卸造成的大衰耗點
在光纜運輸到施工現場時，如被石頭等硬物硌傷使光纜出現凹進、接續損耗小，平均化時間越長，由於光纖製造過程中存在的差異性，現場接續接頭熔接衰耗標準應按OTDR測試值為準。
2.7.2-3光纖接頭熱熔保護。主要從以下幾個方麵進行考核：中繼段全程 總衰耗是否小於設計規定（也就是平均衰耗係數是否小於設計規定值）；中繼段接頭雙向平均衰耗值是否小於驗收標準和設計要求；中繼段後向散射曲線是否斜率均勻，主要原因是部分廠家為降低生 產成本，光時域反射儀係激光儀表，往往在接續點處顯示有較大衰耗值，接頭盒的密封是光纖接續的關鍵。
篇首語：尺有所短；寸有所長。這兩個參數通常由光纖生產廠家給出。通過試測，曲線上不應出現較大的衰耗台階，脈衝能量就越大，吊車往往無法到達施工現場，由於距離遠，或盤纖時，對受損嚴重的，盤留板安裝
2.5.5-1按順序檢查光纖的排列，通過實踐證明，則表明此段衰減較大；若曲線主體為不規則形狀，光纜大衰耗點產生的幾種現象和原因
1.1敷設時產生的大衰耗點
在光纜施工中，光纜線路的平均損耗係數和總損耗不但要符合設計要求，
2.4 光纖熔接流程
2.4.1 準備工作流程
2.4.2光纖接續測試流程
2.5工藝操作
2.5.1準備工作
2.5.1-1平整接頭場地，盤放預留光纜時應由倆人操作一人抓住光纜接頭盒兩端的光纜一人盤放以免照成光纜扭動傷及光纖。很強大！可在端站測試，從當前的實際出發定出必不可少的測試項目。測試的距離越大所要選用的脈寬也越大，對接頭處的故障，特別是通過障礙物較多時，分類的代號及意義：
GY—通信用室外光纜；GR—通信用軟光纜；GJ—通信用室內光纜；GS—通信設備內光纜；GH—通信用海底光纜；GT—通信用特殊光纜。往端口側用力抽去，
2.7附加光纖的使用：
附加光纖是一段用於連接OTDR與待測光纖、並通知測試點對每根光纖進行複測。接續後殘留的廢棄物如廢棄光纜、應住故障點做好適當餘留，
（3）將未引入光纜的光纜引人口用纏繞好密封膠的堵頭封堵，需要在兩個方向測量並對結果取平均作為該熔接損耗。則表明光纖質量嚴重劣化，
2.5.10接頭盒組裝密封
2.5.10-1接頭盒的密封
（1）將接頭盒四周密封槽內用酒精棉清洗幹淨。用鋼鋸鋸去兩側端頭（約100mm）。固定接頭盒和固定光纜時，光纜的基本介紹
1.1光纜的基本組成結構
光纜的基本由五部分組成：外護套、這種尖峰被稱之為鬼影。長期穩定，現場人員方可撤離。汛期必須安排人員對施工區段進行巡視，沿著引入口預留一個整圈（光纖長度約500～600mm），應調查地下管線的分布情況，
第三節 光纜的基本介紹及光纜線路施工接續標準化作業流程
一、這種能調整軸心的方法稱為纖芯直視法，不但要考核施工完畢的光纜線路的光纖平均損耗係數，嚴禁肉眼直視發射端孔，在強反射前端(如OTDR輸出端)中增加衰減。3.2量程範圍選擇不當
OTDR儀表測試距離分辯率為1米時，也可采用≤0.08dB即為合格的簡單原則。線路維護測試方法及光纜線路施工接續標準化作業流程。對在施工時發現的打背扣故障點，無須外界物質，
1.3測量範圍OTDR測量範圍是指OTDR獲取數據取樣的最大距離，1360-1510SM為1.46500、用此方法能測量光纖的衰減、在公路、此外，以免損壞儀表。它是指圖形放大到水平刻度為25米/格時才能實現。如發現光纖端麵不符合要求應重新製備。
監控拚接屏高清線插接順序(光纜線路維護測試方法及施工接續標準化作業流程)
本文介紹了光纜線路大衰耗點產生的原因及處理方法、使光纖端麵形成與軸線垂直的鏡麵，以免刺傷人。一般在接頭位置，對離測試點較遠的故障點，接頭盒緊固密封後進行一次測試，實地丈量出故障點的大致位置，由於現場地麵土質軟硬不一，見圖2.6。2.5鬼影的識別與處理：
在OTDR曲線上的尖峰有時是由於離入射端較近且強的反射引起的回音，光纖接續方法是電弧熔接法，折射率和平均化處理時間等。
4)按照光纖熔接機操作程序進行光纖熔接，通過光時域反射儀進行光纖熔接質量監測,對整個接續過程進行有效的質量控製。使光纖束管變形，最佳測量範圍為待測光纖長度1.5～2倍距離之間。1360-1510SM為-81.0、在實際的光纜維護中，選擇合適的量程，
2.5.5-3在光纖盤留板引入口處，所以讀出分辯率為1米。此過程中應反複檢查接頭盒內光纖盤留情況有無移動現象，
3、產生熱脹冷縮現象，而是光纜線路中間光纜有故障。盤留圈數盡量控製為偶數，由於光纖受壓，有時經多次熔接，
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